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日本電子掃描電鏡用于觀察和測(cè)量各種樣品，包括電子元件和金屬材料。此顯微鏡使用簡單，只要放上樣品，就可以輕松地完成 3D 觀察、測(cè)量、報(bào)告自動(dòng)生成等一系列操作。

JEM-2100 時(shí)間分辨電子顯微鏡及相關(guān)附件是利用一個(gè)或多個(gè)激光器進(jìn)行pump-探針實(shí)驗(yàn)而設(shè)計(jì)的用于研究樣品中的瞬態(tài)現(xiàn)象。 用戶可以直接用激光激發(fā)樣品，紫外激光產(chǎn)生光電子探針脈沖，在成像、衍射、光譜或光譜成像模式下對(duì)樣品進(jìn)行探測(cè)。